日本日置ST5520，ST5520-01絕緣電阻測(cè)試儀- 詳細(xì)介紹：
日本日置ST5520，ST5520-01絕緣電阻測(cè)試儀
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實(shí)現(xiàn)了“高速”絕緣電阻檢查 |
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最快50ms的高速判斷
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快速釋放殘留電壓
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任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值（25～1000V（1V分辨率）設(shè)置）
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接觸檢查功能（防止由于接觸不良造成的誤判斷）
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短路檢查功能（防止不合格品流入市場(chǎng)）
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主機(jī)無(wú)法單獨(dú)測(cè)量。請(qǐng)根據(jù)測(cè)量目的另外購(gòu)買測(cè)試線。 |
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基本參數(shù) |
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測(cè)試項(xiàng)目 |
絕緣電阻（直流電壓施加方式） |
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測(cè)試電壓/測(cè)量量程
（手動(dòng)/自動(dòng)）
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25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ),
100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ),
500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ) |
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基本精度 |
±2 % rdg. ±5 dgt.
25 V ≦ V < 100 V [0～20 MΩ],
100 V ≦ V < 500 V [0～20 MΩ],
500 V ≦ V ≦ 1000 V [0～200 MΩ] |
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測(cè)試速度 |
FAST：30ms/次，SLOW：500ms/次（切換） |
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顯示屏 |
LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段 |
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存儲(chǔ)功能 |
保存內(nèi)容：額定測(cè)量電壓、比較器上下限值、測(cè)試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測(cè)試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測(cè)量速度
存儲(chǔ)數(shù)：最多10組（可保存/讀?。?/p>
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測(cè)試模式 |
連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式（切換） |
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比較設(shè)置 |
UPPER_FAIL：測(cè)量值≧上限值
PASS： 上限值＞測(cè)量值＞下限值
LOWER_FAIL：測(cè)量值≦下限值 |
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判定處理 |
蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮，UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮，EXT. I/O 輸出、通過(guò)RS-232C獲取判定結(jié)果 |
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試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器 |
0.045 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率），從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間 |
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響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器 |
試驗(yàn)開始后，禁止按照0.005 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率）設(shè)置比較器判定動(dòng)作的時(shí)間 |
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模擬輸出 |
DC +4 V f.s. |
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接口 |
RS-232C（標(biāo)配），外部I/O（外部控制器用輸入，判定結(jié)果輸出），BCD輸出（僅限ST5520-01） |
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電源 |
AC100 V ～ 240 V，50/60Hz，最大25VA |
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體積及重量 |
215W×80H×166Dmm，1.1kg |
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附件 |
操作說(shuō)明書×1、電源線×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1 |
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