美國(guó)泛美38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀- 詳細(xì)介紹:
美國(guó)泛美38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀
38DL PLUS超聲測(cè)厚儀主要應(yīng)用是:測(cè)量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中最常使用的是雙晶探頭。
主要特點(diǎn):
可與雙晶和單晶探頭兼容。
寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據(jù)材料和所選探頭而定。
使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。
穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能,用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。
內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。
對(duì)于所有探頭,標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
使用頻率范圍2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量
多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。
差分模式和縮減率模式。
時(shí)基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
帶有數(shù)字式過(guò)濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。
用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)。
可直接訪問(wèn)所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面。
內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
USB和RS-232通訊端口。
可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。
默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。
密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。